質量分析
(MS、GC-MS、LC-MS、TOF-SIMS など)

GC-MS、TDS-MS、TG-MS、FD-MS、LC-MS、LC-TOFMS、LC-MSMS、TOF-SIMS、ICP-MS



GC-MS、TDS-MS、TG-MS


ポリマー中の有機スズ化合物の定性定量分析

樹脂中の添加剤分析 -フタル酸エステル類の分析-

加熱発生ガス分析 ハートカットEGA-MS法による混合ガス成分の分析

加熱発生ガス分析 分析法一覧

リチウムイオン二次電池 膨れ試験と発生ガス分析 -GC-BID、GC-MS-

正極のバインダー分布・組成評価 -SEM高感度EDS、熱分解GC/MS-

添加剤の総合分析

未知成分の構造推定 GC/MS/MS Q-TOF型

リチウムイオン二次電池 電極のバインダ樹脂の解析

トルエン中の類似芳香族化合物定量分析

加熱発生ガス分析 分析方法一覧

微小空間内面のアウトガス分析

揮発性有機化合物 (VOC) 分析 (1)

揮発性有機化合物 (VOC) 分析 (2)

熱分解GC/MSを用いたゴムの分析

熱分解ガスクロマトグラフ質量分析 (Py-GC/MS) による液晶ポリマーの組成分析

高真空下における高分子フィルムからの昇温脱離分析 -TDS-MS-

TDS-MSによる半導体の分析 (1)



FD-MS、LC-MS、LC-TOFMS、LC-MSMS


プラスチック製品の表面ブリード物分析

樹脂添加剤の総合分析

添加剤の総合分析

リチウムイオン二次電池 電解液の劣化変性物解析 -LC/MS/MS-

リチウムイオン二次電池 電解液の寿命試験前後の分析

リチウムイオン二次電池 SEI層中の添加剤解析 LC/MS/MS

電界脱離質量分析法:FD-MS

電解液中の変性物の精密解析



TOF-SIMS


プラズマ処理PPの親疎水性の解析 -表面・深さ方向の分析-

プリント配線基板上の金パッド表面の変色原因解析

プラスチック製品の添加剤分析 -表面ブリード分析と深さ分布解析-

プラスチック製品の表面、深さ方向の微量成分分析 -GC-IB併用TOF-SIMS-

プラズマ処理ポリプロピレンの深さ方向分析 -GC-IB併用 TOF-SIMS-

印刷物表面の無機・有機成分と分布分析 -TOF-SIMS-

毛髪表面の付着成分分析 -TOF-SIMS-

食品用多層フィルムの層構成、添加剤深さ方向分布 -GC-IB併用TOF-SIMS-



ICP-MS


シリコン基板上ポリシリコン膜の金属汚染分析

固体高分子形燃料電池 (PEFC) 電解質膜の溶出試験

多層膜の金属汚染分析

多層膜の金属汚染分析の前処理

太陽電池用シリコンの不純物分析

高分解能ICP質量分析

ICP-MS法による基板表面の金属汚染の分析




  • 分析メニュー・事例




お問合せ

《CONTACT》

分析についてのご相談などお気軽にお問合せください。
弊社担当営業よりご案内させて頂きます。
WEBからのお問合せはこちらから。


東日本営業グループ
TEL.03-6880-7695 FAX.03-6880-7696

〒104-0028  東京都中央区八重洲2-2-1 東京ミッドタウン八重洲  
八重洲セントラルタワー 17階


東海営業グループ
TEL.052-587-3617 FAX.052-587-3618

〒450-0003  愛知県名古屋市中村区名駅南1-24-30
(名古屋三井ビル本館)


西日本営業グループ
TEL.06-6446-2960 FAX.06-6446-2970

〒550-0004  大阪府大阪市西区靭本町1-11-7
(信濃橋三井ビル)


西日本営業グループ(岩国営業チーム)
TEL.0827-53-9190 FAX.0827-53-8894

〒740-0061  山口県玖珂郡和木町和木6-1-2




Copyright © MITSUI CHEMICAL ANALYSIS & CONSULTING SERVICE, INC. All Rights Reserved.