樹脂中のナノフィラーの分散状態解析
-小角X線散乱 (SAXS)-

概要


小角X線散乱 (SAXS) 法はナノサイズ材料を分析する有効な方法で、樹脂成型品やフィルム中であっても 1 ～ 100 nm の粒径分布や分散状態 (平均距離)を評価することができる。



粒子分散の状態解析手法の比較


  SAXS SEM・TEM 動的光散乱・
粒度分布測定法
粒子サイズ nm ( nm ～) μm サブ μm
粒子サイズ情報 3次元情報 2次元情報 3次元情報
(マトリックスは透明)
粒子間平均距離 ◎ ○ (2次元情報) ×


ナノフィラーの分散状態解析事例


SAXSプロファイルを解析し、球状ナノフィラーのサイズ分布、分散状態(平均距離)を評価

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