FT-IRによる高分子材料の解析

原理


光の波動性を利用し、試料がある場合と無い場合の干渉計のインターフェログラムを測定し、フーリエ変換することでスペクトルを得ます。

  • 測定領域：400 - 10000 cm-1
  • 最高分解能：0.075 cm-1 (FWHH)
  • 感度：シグナルノイズ比 ＝ 6000 / 1


測定例


●アクリル系樹脂の光硬化過程の測定

ラピッドスキャン (高速測定 : 60スペクトル / sec 以上) により反応挙動を追跡する。

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●位相変調PAS法による多層膜の分析

位相変調測定により光音響 (PAS) にありがちなシグナルの飽和を抑えて深さ方向の分析が可能。

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