更新日：2026年 5月 11日
以下発表いたします。
【タイトル】 STEM-EELSによるNMC系正極材料のNi価数の局所評価 【学会】 日本顕微鏡学会 第82回学術講演会 https://conference.wdc-jp.com/microscopy/conf2026/ ※外部サイトへアクセスします 【発表者】 構造解析研究部 本田 拓也、伊藤 努武、進藤 好子、三田 聡子 【発表日】 2026年 5月 25日 (月) 【会場】 仙台国際センター 展示棟
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