概要

PVモジュールのSiセルの微小な領域の断面観察や組成分析を通じて、不良原因推定するデータを提供する。

分析例 白濁部Siセルの表面付近断面観察と元素マッピング

白濁部Siセルの断面観察


白濁部Siセルの断面元素マッピング(EDS)

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