概要

TOF-SIMS分析では、材料表面に存在する成分の種類や分布を確認することができる。
印字された紙表面をTOF-SIMS分析した。紙(セルロース)やトナー由来のイオンが検出され、それぞれの成分の広範囲(数mm角程度)なマッピング測定が可能である。
印刷不良などの原因解析に役立てることが出来る。

分析試料

印刷された紙

分析事例

(1) 紙表面の正二次イオン質量スペクトル

(2) 紙表面の二次イオン像

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