概要

低加速SEM-EDS法により数10nmの高空間分解能で元素分布を評価することができる。トナー粒子上の表面処理剤の分布を評価した。100nm以下のサイズの粒子についても、高分解能の元素分析によりシリカ・カーボンブラックなどの判別が可能である。

トナー粒子の構造模式図

トナー粒子のSEM像

SEM像と表面処理剤元素マッピング

トナー粒子表面に存在する100nm以下のサイズの表面処理剤
(シリカ、カーボンブラックなど)の判別とその分布が評価できる

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