■ 広範囲な電子製品に呼応

シリコンウエーハ表面、液晶パネル、有機ＥＬパネルなどの微量不純物分析、プリンターインクの成分分析、電池材料の耐久性試験など開発をお手伝いします。

■ 表面・界面をマイクロからナノサイズの微小領域で分析

液晶パネル、有機ＥＬパネル、デバイス断面のＴＥＭ観察、微量・微小部や表面の組成・構造を明らかにします。（ＸＰＳ、ＴＯＦ-ＳＩＭＳなど）

■ 高信頼性の有機・無機分析の同定、定量

豊富な前処理技術を活用してシリコンウエーハ表面、基板表面、多層薄膜、各種薬液、容器などに含まれている微量不純物の同定・定量をおこないます。（濃縮イオンクロマトグラフ分析、ＩＣＰ−ＭＳ、ＧＣ−ＭＳなど）

■ 製品トラブルにおける迅速な原因究明、競合品の全分析

デバイス構造欠陥などのＴＥＭ観察による故障解析、材料組成の分析（ＮＭＲ、ＧＣ-ＭＳなど）や機械・熱・電気特性などの薄膜物性を測定・解析します。