分析材料（分野）別 | 株式会社三井化学分析センター

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情報電子分野

　半導体無機微量分析

・ＩＣＰ－ＭＳ法による基板表面の金属汚染の分析
・多層膜の金属汚染分析
・多層膜の金属汚染分析の前処理
・シリコンウエハ金属汚染の局所分析
・シリコン基板上ポリシリコン膜の金属汚染分析
・高塩濃度中の微量元素の定量
・超微量アンモニウムイオン（ＮＨ4+）の定量-ｲｵﾝｸﾛﾏﾄ法-
・クリーンルーム大気の分析（酸性・塩基性物質および金属成分の分析）
・基板表面のイオン成分分析

　半導体形態観察

・ＦＩＢ-TEMによる低誘電率材料/銅配線の微細構造観察
・半導体の電子顕微鏡による形態観察

　半導体微量ガス分析

・微小空間内面のアウトガス分析
・ＴＤＳ－ＭＳによる半導体の分析（１）

　半導体表面分析

・ＳＩＭＳによる半導体の分析（１）
・ＳＩＭＳによる半導体の分析（３）
・ＳＩＭＳによる半導体の分析（４）
・ＳＩＭＳによる銅（配線材）中の不純物元素の定量分析

　ディスプレイ・携帯電話の分析

・電子部品のトータルソリューション
・液晶パネルシール部の分析
・ＩＣチップの断面観察(携帯電話の例）
・電極部の断面監察(携帯電話の入力キー）
・アロイ構造の解析(携帯電話の筐体、表示部）

　ディスプレイ関連材料の分析

・近赤外（ＮＩＲ）によるエポキシ硬化反応の追跡
・ＦＴ－ＩＲによる高分子材料の解析
・ＳＡＩＣＡＳ（精密斜め切削装置）によるデプスプロファイル
・ＦＴ－ＩＲによるＵＶ硬化樹脂の反応追跡
・ＦＴ－ＩＲによる熱硬化樹脂の反応追跡
・UV硬化粘弾性測定
・走査型プローブ顕微鏡による液晶の直接観察
・有機ＥＬ部材の元素マッピング（面分析）　
・Ｘ線回折法による液晶の評価（１）（ｾﾙ中における傾き角の測定）
・Ｘ線回折法による液晶の評価（２）（層間隔の温度依存性の測定）
・液晶中のイオン成分の分析
・原子間力顕微鏡による液晶素子の形態観察
・反強誘電性液晶の時間分解赤外分光測定
・有機ＥＬパネルの断面観察

　印刷記録

・ＤＶＤ記録マークの観察

　燃料電池

・燃料電池の分析　
・固体高分子形燃料電池（ＰＥＦＣ）－触媒の電気化学試験－　
・固体高分子形燃料電池触媒の電気化学的試験（酸素還元性能の測定）
・固体高分子形燃料電池触媒の電気化学的試験（白金表面積の測定）
・固体高分子形燃料電池（ＰＥＦＣ）－触媒の初期特性評価－
・固体高分子形燃料電池（ＰＥＦＣ）－触媒の耐久性評価（１）－
・固体高分子形燃料電池（ＰＥＦＣ）－触媒の耐久性評価（２）－
・固体高分子形燃料電池（ＰＥＦＣ）－電解質膜の溶出試験－
・湿度・水中環境制御　粘弾性測定
・電解質膜のガス透過試験

　太陽電池

・太陽電池の分析・試験　
・太陽電池用シリコンの不純物分析
・シリコン系太陽電池の断面観察　－走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）－
・シリコン系太陽電池の断面観察　－透過電子顕微鏡（ＴＥＭ）－
・ＡＱＵＡＴＲＡＮによる水蒸気透過度測定
・太陽電池用部材の耐久性試験

　二次電池

・リチウムイオン二次電池の分析・試験

・リチウムイオン二次電池　正極材の寿命試験前後の比較分析

・リチウムイオン二次電池　負極材のTOF-SIMSによる表面解析

　薄膜・フィルム

・ナノインデント（ナノ押し込み硬度）測定 -ＰＥＴフィルム-
・ナノインデンテーションによる表面ヤング率の測定
・ナノスクラッチ測定法
・マイクロ熱分析装置(μ－ＴＡ）
・微小硬度計による基板の局所硬度測定
・走査型レーザー顕微鏡
・角度可変ＸＰＳ分析法による有機物表面の分析
・水溶性樹脂のＴＥＭ観察技術

　ＲｏＨＳ分析

・ＷＥＥＥ＆ＲｏＨＳ規制に基づく電気電子機器の有害物質
・ＷＥＥＥ＆ＲｏＨＳ規制　規制対応分析　鉛フリーはんだ及びめっき中の有害金属の分析
・ＷＥＥＥ＆ＲｏＨＳ規制　環境管理物質分析について

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