測定部位
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得られる情報
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分析法
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正極 |
元素組成比 |
高周波プラズマ発光分析(ICP−AES) |
結晶構造変化 |
ラマン分光、X線回折(XRD)、透過電子顕微鏡(TEM) |
形態変化 |
透過電子顕微鏡(TEM)、走査電子顕微鏡(SEM) |
価数変化 |
X線光電子分光(XPS)、電子スピン共鳴(ESR)
X線吸収微細構造(XAFS) |
負極 |
結晶構造変化 |
ラマン分光、X線回折(XRD)、透過電子顕微鏡(TEM) |
酸化状態 |
ラマン分光、透過電子顕微鏡電子エネルギー損失分光(TEM-EELS) |
| 正極の溶出 |
高周波プラズマ発光分析(ICP−AES)、
X線光電子分光(XPS) |
微量成分 |
飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)
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電解液 |
溶媒の微量変性成分 |
ガスクロマトグラフ質量分析(GC/MS)、
液体クロマトグラフ-タンデム型質量分析(LC/MS/MS)、
液体クロマトグラフ-飛行時間型質量分析(LC/TOF-MS)
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電解質の構造変化 |
核磁気共鳴(NMR) |
電解質の濃度変化 |
高周波プラズマ発光分析(ICP−AES) |
セパレータ |
形態変化 |
走査電子顕微鏡(SEM)、原子間力顕微鏡(AFM) |