絶縁体中の空隙の非破壊検査(1)

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概要

絶縁材料中に空隙(ボイド)があると、その部分に電界が集中し、微弱な放電が発生する。これを部分放電とよび、この時の電荷の移動(電荷量)を検出し、材料中の欠陥を非破壊で評価できる。
部分放電開始電圧の大小でボイドの程度を評価できる。

サンプルAは、電圧を3700V、サンプルBは電圧を3000Vまでそれぞれ昇圧させた試験で、部分放電をそれぞれ検出した
サンプルBはサンプルAよりも部分放電開始電圧が低くボイドの程度が悪いことがわかる

試験条件例

試験規格 IEC60664,JEC-0401等 最高電圧 5000 V
試験環境 23±2 ℃/50±5%RH 周波数 50 Hz
試料 絶縁材料,絶縁シート,太陽電池のバックシート等
その他 貴社のご希望の試験条件があれば、対応致します。お気軽にお問い合わせ下さい。

検索番号6G012

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