誘電率(εr)・誘電正接(tanδ)の測定
(110Hz~1MHz段階的)

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概要

固体・液体試料の誘電率や誘電正接測定は、物性解析手法として大変有効です。 固体試料において誘電正接が、絶縁体の電気的性質を示す重要な数値として、広く利用されています。また、非破壊であるという利点もあります

測定方式: 相互誘導ブリッジ回路による3端子測定法
(置換測定法により測定精度を向上させています。)
関連規格: ASTM D150,JIS K6911,JIS K6922-2 IEC 60250 など

用途例

  1. 電線材料の絶縁性評価(誘電損失)
  2. 液晶、高分子などの分子誘電緩和過程、誘電率測定
  3. コンデンサー用高分子フィルムの特性評価

試料の電極装着

電極処理:錫箔または導電性ペイント使用

・GHz帯での測定
 上記の他、円筒空洞共震器法により、GHz帯での比誘電率・誘電正接の測定も可能です。

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検索番号6G004

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