毛髪表面の付着成分分析
− TOF-SIMS −

印刷する

概要

TOF-SIMS分析では、試料表面に存在する成分の種類や分布を確認することができる。
2種類の毛髪表面をTOF-SIMSで分析した。両者ともにメチルエイコサン酸(18-MEA/毛髪由来)や、ラウリル硫酸(シャンプー由来)が検出され、毛髪Aからは、加えてシリコーン(シャンプー由来)が検出された。二次イオン像では、毛髪Aは、Bに比べ、髪表面のキューティクル形状が不鮮明であり、シャンプーの違いが表面付着成分の違いとして観測された。

分析事例

(1) 毛髪表面の正二次イオン質量スペクトル

(2) 毛髪表面の二次イオン像

検索番号4070

本技術資料ダウンロード

お問合せはこちらから

※東京以北:東京都北部〜千葉・北関東、北信越、東北、北海道、海外
東京以南:東京都南部、神奈川、静岡、山梨
なお、東京都北部、東京都南部の各エリアは東京都を中央線・総武線にて大まかに分けております。

WEBからのお問合せはこちら