ナノコンポジット材料の評価
X線解析、電子顕微鏡

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概要

ナノコンポジット材料は、自動車、航空機等の軽量化目的のための材料として注目されている。
材料特性を決める重要因子であるナノレベルのフィラーの分散状態は、X線解析、電子顕微鏡により評価できる。

サンプル例 : ナノフィラー / ポリマー系複合材料

●分析例1 X線解析:小角X線散乱測定(SAXS)

小角X線散乱測定(SAXS)より、
サンプル全体のナノレベルの情報を解析・評価することができる。

【サンプル(A)】
 100nm以下のサイズに対応する
 X線強度が強い
 ⇒ナノフィラーが100nm以下のナノレベルに微分散(ナノコンポジット材料)

【サンプル(B)】
 数百nmレベルのサイズに対応する
 強度が強い
 ⇒ フィラーが、数百nmレベルで分散

●分析例2 電子顕微鏡:透過型電子顕微鏡(TEM)

サンプル(A) :ナノフィラー(黒色)が 100nm以下のレベルでポリマー中に微分散


サンプル(B) :ナノフィラーがフィラー塊として数百nmレベルでポリマー中に分散

透過型電子顕微鏡により、ナノフィラーの分散状態を観察することができる

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