高分子接合界面の元素分布による評価－低加速SEM-EDS－
概要
高分子材料はC, N, O, F などの軽元素で構成され、低密度な材料であることから、従来のSEM-EDS法（加速電圧5kV以上で測定）ではミクロンオーダー以下元素分布を評価することができなかった。最新型高感度EDS検出器を用いて低加速電圧（加速電圧5kV以下）測定することにより、高分子の接合界面をナノオーダーのサイズで評価することができる。
接合界面の元素分布評価
検索番号4053
※東京以北：東京都北部〜千葉・北関東、北信越、東北、北海道、海外
東京以南：東京都南部、神奈川、静岡、山梨
なお、東京都北部、東京都南部の各エリアは東京都を中央線・総武線にて大まかに分けております。
