高分子接合界面の元素分布による評価-低加速SEM-EDS-

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概要

高分子材料はC, N, O, F などの軽元素で構成され、低密度な材料であることから、従来のSEM-EDS法(加速電圧5kV以上で測定)ではミクロンオーダー以下元素分布を評価することができなかった。最新型高感度EDS検出器を用いて低加速電圧(加速電圧5kV以下)測定することにより、高分子の接合界面をナノオーダーのサイズで評価することができる。

接合界面の元素分布評価

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