マイクロサンプリング法による多層フィルム層構成の分析

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概要

多層フィルムの切片を写真撮影し、マイクロサンプリング法で各層を切り出します。
各層の材質を赤外分光分析(FT-IR)マイクロビーム法によって同定します。

分析法

  • サンプリングサイズ:層厚 数μm以上
  • 光学顕微鏡観察(OM)
  • 走査電子顕微鏡観察(SEM)
  • ホットステージによる融点測定
  • フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR)

結果

フィルム断面の光学顕微鏡(OM)写真

断面の光学顕微鏡写真から、各層の厚み構成は

第1層: 220μm
第2層: 6μm
第3層: 22μm
第4層: 6μm
第5層: 150μm

であることがわかりました。

例)第2層の赤外分光(FT-IR)スペクトル
融点:110℃

例)第3層の赤外分光(FT-IR)スペクトル
融点:183℃

赤外分光分析の結果、各層の材質は次の通りであることがわかりました。

第1層:EVA 第2層:酸変性PE 第3層:EVOH
第4層:酸変性PE 第5層:EVA  

また、第2・4層の酸変性PEはマイクロサンプリング法で明らかになりました。

検索番号4007

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