樹脂中のナノフィラーの分散状態解析-小角X線散乱(SAXS)-

印刷する

概要

小角X線散乱(SAXS)法はナノサイズ材料を分析する有効な方法で、樹脂成型品やフィルム中であっても1~100nmの粒径分布や分散状態(平均距離)を評価することができる。

粒子分散の状態解析手法の比較

  SAXS SEM・TEM 動的光散乱・粒度分布測定法
粒子サイズ nm (nm~)μm サブμm
粒子サイズ情報 3次元情報 2次元情報 3次元情報(マトリックスは透明)
粒子間平均距離 ○ (2次元情報) ×

ナノフィラーの分散状態解析事例

SAXSプロファイルを解析し、球状ナノフィラーのサイズ分布、分散状態(平均距離)を評価

検索番号1043

本技術資料ダウンロード

お問合せはこちらから

※東京以北:東京都北部〜千葉・北関東、北信越、東北、北海道、海外
東京以南:東京都南部、神奈川、静岡、山梨
なお、東京都北部、東京都南部の各エリアは東京都を中央線・総武線にて大まかに分けております。

WEBからのお問合せはこちら