X線回折法による微小試料、微量成分の分析

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概要

試料にX線を照射して得られる回折パターンを解析することで、試料中に含まれる結晶物質とその結晶構造がわかる。

分析例 微小異物の分析

0.4mmφに集光した高輝度X線で測定できる弊社装置なら、
一般的な装置では不可能な微小試料・部位の分析(>100μm)が可能
フィルム中のに酸化チタンTiOのルチル型が異物として混入していることがわかった

分析例 微量成分の分析

高輝度X線、高感度検出器により高S/Nな測定ができる弊社装置なら、
一般的な装置では不可能な希薄な成分(>0.1wt%)の分析が可能
シート中に0.1wt%含有した酸化チタンTiO(ルチル型)を検出できている

※酸化チタンTiO2にはルチル型、アナターゼ型、ブルッカイト型の結晶多形がある

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