広角X線回折による高分子の配向度測定

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測定例

高分子の微結晶が選択配向している場合に、広角X線回折像を調べると回折線が弧状(高強度時はスポット)になる。
特定の回折面に対し回折強度を円環積分すると方位角度(β角度)-強度分布を曲線として表すことができる。これを方位角分布曲線と呼び、この曲線におけるピークを配向性ピークとしてその強さ(鋭さ)を相対的に評価することで配向度を解析することができる。

配向度 F=(180-Wh)/180

Whは配向性ピーク半値幅(ピークの半分の高さのピーク幅)平均

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