FT-IRによる高分子材料の解析

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原理

光の波動性を利用し、試料がある場合と無い場合の干渉計のインターフェログラムを測定し、フーリエ変換することでスペクトルを得ます。

  • 測定領域:400-10000cm-1
  • 最高分解能:0.075cm-1FWHH
  • 感度:シグナルノイズ比=6000/1

測定例

●アクリル系樹脂の光硬化過程の測定

ラピッドスキャン(高速測定:60スペクトル/sec 以上)により反応挙動を追跡する。

●位相変調PAS法による多層膜の分析

位相変調測定により光音響(PAS)にありがちなシグナルの飽和を抑えて深さ方向の分析が可能。

検索番号1011

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